Particle-induced X-ray emission hay proton-induced X-ray emission (PIXE) là một kỹ thuật được sử dụng để xác định thành phần nguyên tố của một mẫu hay vật liệu. Khi một vật liệu được phơi dưới chùm tia ion, tương tác nguyên tử xảy ra sẽ tỏa ra bức xạ EM với bước sóng nằm trong vùng tia X của điện quang phổ đặc trưng cho một nguyên tố. PIXE là một phép phân tích rất mạnh nhưng không gây phá hủy và hiện nay thường được dùng bởi các nhà địa chất, các nhà khảo cổ học và các nhà bảo tồn nghệ thuật… nhằm giải đáp các câu hỏi về nguồn gốc, thời điểm, và tính xác thực. Kỹ thuật này lần đầu tiên được đề xuất vào năm 1970 bởi Sven Johansson ở Đại học Lund, Thụy Điển, và được ông phát triển trong vài năm tiếp theo cùng với các đồng nghiệp là Roland Akselsson và Thomas B Johansson. Sự mở rộng gần đây của PIXE sử dụng tập trung chùm tia hội tụ chặt (xuống đến 1 μm) làm tăng khả năng các phép vi phân tích. Kỹ thuật này, gọi là microPIXE, có thể được dùng để xác định sự phân bố của các nguyên tố phụ trong một loạt các mẫu. Một kỹ thuật liên quan, particle-induced gamma-ray emission (PIGE) có thể được dùng để phát hiện một số nguyên tố nhẹ.